電子產(chǎn)品冷熱沖擊測試的設(shè)備用壓縮機(jī)為主的制冷系統(tǒng)制冷產(chǎn)生低溫（也稱冷溫）及在加熱系統(tǒng)中產(chǎn)生的高溫（也稱熱溫）中兩溫度經(jīng)過控制器操控來回沖擊試驗(yàn)led產(chǎn)品或配件，檢測其所受的在短時(shí)間內(nèi)經(jīng)極冷溫及極熱溫的連續(xù)循環(huán)環(huán)境下所能承受的物理變化。

柳沁公司生產(chǎn)和銷售的主產(chǎn)品：led冷熱溫度沖擊箱、led高低溫溫度沖擊箱、可程序高低溫沖擊試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱、高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱、紫外線老化試驗(yàn)箱、氙燈老化試驗(yàn)箱、步入式恒濕恒濕試驗(yàn)室、電磁振動試驗(yàn)臺、跌落試驗(yàn)機(jī)、蒸汽老化試驗(yàn)機(jī)、精密工業(yè)烘烤箱、模擬運(yùn)輸振動試驗(yàn)臺、鹽水噴霧試驗(yàn)箱、跌落試驗(yàn)機(jī)、拉力試驗(yàn)機(jī)等環(huán)境類檢測設(shè)備，歡迎大家咨詢與購買。

冷熱溫度沖擊試驗(yàn)箱｜冷熱溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)是金屬、光電、塑料、LED、橡膠、電子等工業(yè)材料行業(yè)的試驗(yàn)設(shè)備，用于測試它們得以在短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。分為兩箱式和三箱式，區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同，產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)為：GB-T10592-2008、GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A 、GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗(yàn)的要求。

電子產(chǎn)品冷熱沖擊測試的設(shè)備的技術(shù)參數(shù):

1.內(nèi)箱尺寸：W400mm*H500mm*D400mm(柳沁可根據(jù)顧客需要做出更多合適尺寸的設(shè)備）。

2.外箱尺寸：以實(shí)際尺寸為標(biāo)準(zhǔn)。

3.高溫槽預(yù)熱溫度范圍：+60℃～200℃。

4.升溫時(shí)間： +60℃～200℃≤30min。

5.低溫槽預(yù)冷溫度范圍： -75～-10℃。

6.降溫時(shí)間： +20℃～-75℃≤60min；﹙注：降溫時(shí)間為低溫槽單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能）。

7.試驗(yàn)方式： 氣動風(fēng)門切換。

8.溫度沖擊范圍： ﹙+60℃～+150℃﹚/﹙-65℃～-10℃﹚ 。

9.溫度波動度： ±0.5℃ 。

10.溫度偏差： ±2.0℃ 。

11溫度恢復(fù)時(shí)間： ≤5分鐘。

12.試樣限制：本實(shí)驗(yàn)設(shè)備禁止易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存；腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存。